KETT Fischerscope MMS PC2 多系統(tǒng)薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹

核心優(yōu)勢(shì)：模塊化設(shè)計(jì)與多技術(shù)集成

• 靈活的模塊化架構(gòu)：儀器主機(jī)預(yù)留了多個(gè)模塊插槽，用戶可以根據(jù)自身的測(cè)量需求，像搭積木一樣選擇和安裝不同的測(cè)試模塊。這種設(shè)計(jì)使得一臺(tái) MMS PC2 可以替代多臺(tái)專用設(shè)備，極大地節(jié)省了實(shí)驗(yàn)室空間和設(shè)備采購(gòu)成本。

• 多技術(shù)集成：通過安裝不同的模塊，MMS PC2 能夠運(yùn)用多種測(cè)量原理，包括：

• 磁感應(yīng)法 (Magnetic Induction)：用于測(cè)量鋼鐵等磁性基材上的非磁性涂層（如油漆、鍍鋅層）厚度。

• 電渦流法 (Eddy Current)：用于測(cè)量銅、鋁等非磁性金屬基材上的絕緣涂層（如陽(yáng)極氧化層）厚度。

• β射線反向散射法 (Beta Backscatter)：適用于測(cè)量極薄的貴金屬鍍層（如電路板上的金、銀鍍層）或復(fù)合涂層。

• 振幅/相位敏感電渦流法：用于更復(fù)雜的應(yīng)用，如測(cè)量多層電路板中特定銅層的厚度或材料的電導(dǎo)率。

智能化操作與強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力

• 直觀的觸摸操作：配備大尺寸彩色觸摸屏，用戶可以像操作智能手機(jī)一樣，通過直觀的圖形界面輕松完成測(cè)量設(shè)置、數(shù)據(jù)分析和報(bào)告生成。同時(shí)，它也支持外接鍵盤和鼠標(biāo)，以滿足更復(fù)雜的操作需求。

• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析與統(tǒng)計(jì)：儀器內(nèi)置了完善的統(tǒng)計(jì)分析功能，可以實(shí)時(shí)計(jì)算并顯示測(cè)量次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差等關(guān)鍵數(shù)據(jù)。測(cè)量結(jié)果可以方便地存儲(chǔ)、導(dǎo)出，并通過 LAN 或 USB 接口無縫集成到工廠的質(zhì)量管理系統(tǒng)（QMS）或自動(dòng)化生產(chǎn)流程中，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的可追溯性和高效管理。

廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域

• 電子與半導(dǎo)體行業(yè)：精確測(cè)量印制電路板（PCB）上的銅層、金鍍層、焊料層以及光阻涂層的厚度，確保電子元件的性能與可靠性。

• 汽車制造：用于檢測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)活塞上的石墨涂層、制動(dòng)盤的防腐涂層以及其他關(guān)鍵零部件的表面處理質(zhì)量。

• 航空航天：對(duì)渦輪葉片的熱障涂層、機(jī)身結(jié)構(gòu)的防腐涂層等進(jìn)行高精度測(cè)量，保障飛行安全。

• 材料科學(xué)研究：在實(shí)驗(yàn)室中，用于分析納米薄膜、太陽(yáng)能電池薄膜、光學(xué)薄膜等新型材料的厚度及其物理特性。